BUSINESS SUPPORT
설비 상세
투과전자현미경
| 개요 | - 투과전자현미경(TEM)은 전자빔을 시료에 조사하여 투과된 전자빔으로 영상을 얻고 회절 된 전자빔을 이용하여 회절 도형을 얻음으로써 재료의 결정구조를 분석 |
|---|---|
| 주요사양 | - Resolution : 0.25nm - Electron Source : high brightness Schottky FEG - Accelerating voltage : 200kV - STEM, EDS가능 |
| 시험항목 / 활용처 | - 단면, 결정/비결정영역, 원소분석 등 |
| 관리부서 | 집진필터실증센터 |
| 연락처 | 054-336-6592 |